斯坦福大学崔屹&赵华两位院士联手，崔一（一作）最新Nature Reviews Physics！

本文综述了低温电子显微镜（cryo-EM）技术在材料科学领域的应用进展。研究背景源于常规透射电镜的高能电子束易对活性或弱键合材料造成损伤，限制了其原始状态的准确表征。研究目的在于回顾cryo-EM的基本原理，探讨其在材料科学中的具体应用方法、成像策略及面临的挑战。结论指出，通过优化低温样品制备（如原位操作冷冻）、发展低剂量成像技术（如4D-STEM、叠层成像）并结合三维断层扫描（cryo-ET）与机器学习，cryo-EM有望实现对多种敏感材料的结构、成分和电子特性的多模态、高保真分析，推动材料表征技术的发展。