JPCC | 抑制剂影响下的临界加速剂浓度与超级填充

ACS美国化学会 2025-09-23 09:00
文章摘要
本文研究了铜电沉积过程中加速剂SPS和抑制剂PEG的相互作用机制。背景方面,电子电镀铜是实现集成电路金属互连的关键技术,超级填充是其核心目标。研究目的在于通过电化学方法和表面增强红外光谱技术,从分子层面揭示SPS与PEG的竞争吸附机制。研究发现存在临界加速剂浓度(CAC),当SPS浓度低于CAC时,PEG抑制作用占主导;高于CAC时,SPS吸附构型改变导致抑制减弱。结论表明CAC概念有助于理解微孔超级填充机理,指导添加剂配比优化,实现自下而上的铜沉积。
JPCC | 抑制剂影响下的临界加速剂浓度与超级填充
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