铁电斯格明子研究取得系列进展

背景：铁电斯格明子作为新型拓扑结构，在非易失性存储器领域具有应用潜力，但纯奈尔型斯格明子的形成机制与稳定性一直是研究难点。研究目的：通过超薄PbTiO3/SrTiO3双层膜实验，探究静电能与梯度能耦合对奈尔型斯格明子的稳定作用，并揭示其与铁电180°畴的遗传关系。结论：在2个单胞厚度的薄膜中首次观测到纯奈尔型斯格明子，相场模拟证实静电能与梯度能起关键稳定作用，该发现为下一代高密度存储器设计提供新思路，相关成果发表于Advanced Materials和Acta Materialia期刊。