加点银纳米线，红外信号灵敏度提升10倍！

日本国立材料研究所Yasuhiko Fujita教授团队通过将短银纳米线引入O-PTIR光学光热红外光谱技术，实现了20 nm级表面化学成分的无损检测。传统红外显微镜受限于光学衍射极限，空间分辨率仅达微米级，而该技术通过可见光检测红外吸收引起的非接触热膨胀，突破了红外光学衍射极限。研究显示，短银纳米线作为中红外共振等离子天线，在样品表面构建法布里-珀罗谐振结构，通过表面增强红外吸收效应，实现了10倍以上的信号增强和20 nm级深度分辨率的突破。这一技术为材料科学、生命科学等领域的研究提供了全新工具，尤其在表面功能膜层成分分析、高灵敏度界面材料检测和生命科学样品表面探测等方面具有广泛应用前景。