同步辐射，3月最新机时！

本文介绍了同步辐射X射线吸收光谱（XAS）技术，特别是扩展边X射线吸收精细结构谱（EXAFS）的应用和分析方法。文章首先阐述了XAS技术在材料电子结构和配位结构研究中的重要性，并详细描述了EXAFS数据的处理流程，包括从能量空间到k空间再到R空间的转换，以及如何通过拟合得到配位元素、键长和配位数等信息。此外，文章还介绍了小波分析在EXAFS数据处理中的应用，以及价态分析和组分分析的方法。最后，文章强调了在进行XAS数据解析时需要注意的事项，包括原始数据的质量、预期结果的定义以及样品相关信息的提供。