AIE荧光探针技术：可视化检测石墨负极析锂行为

本文介绍了清华大学核研院杨洋助理研究员等提出的一种新型AIE荧光探针技术，用于可视化和半定量检测石墨负极在低温或高倍率充电条件下的析锂行为。背景部分指出，锂离子电池在广泛应用中面临石墨负极析锂问题，尤其是在低温或高倍率充电时，这会导致电池容量衰减和安全隐患。研究目的在于开发一种便捷、快速响应的技术来检测和分析这一问题。结论部分表明，该荧光探针技术能够直观地观测到析锂的非均匀分布，并建立荧光强度与析锂量之间的半定量关系，为锂离子电池在多种应用场景下的失效分析提供了实用方法。