Light | 光热显微镜探测5纳米颗粒

本文介绍了亚利桑那大学Judith Su教授团队利用WGM光谐振腔和光热显微镜技术，实现了对单个5纳米量子点的高灵敏度检测。该技术通过无标记、非侵入性的方法，显著提高了检测的灵敏度和分辨率，达到了0.75pW的热散检测极限。此技术避免了传统荧光技术所需的分子标记，简化了实验流程，并提供了更可靠的检测结果。未来，该技术有望通过多色成像进一步扩展其应用范围，为实时观察分子动态变化和相互作用提供新工具。研究发表于Light: Science & Applications，展示了光热显微镜在无标记成像和单分子检测中的巨大潜力。