{"title":"确定 X 射线光电子能谱硬件功能的新方法","authors":"О.М. Кордубан, М.М. Медведський, Д.О. Кордубан","doi":"10.15407/dopovidi2023.05.047","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Розроблено новий метод інструментального визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії (РФС). Вперше показано принципову можливість отримання апаратної функції спектрометра доповненням стандартних вихідних даних РФС додатковою інформацією у вигляді розподілів амплітуд одноелектронних імпульсів для кожної точки спектра. Метод не містить суб’єктивних критеріїв вибору параметрів спектра РФС, притаманних математичним методам деконволюції. Алгоритм методу ґрунтується на аналізі функції амплітудного розподілу імпульсів у кожній точці спектра за критерієм величини співвідношення сигнал/шум. Показано, що застосування методу дає змогу зменшити ширину лінії Cu2p3/2-рівня з 1,2 до 1,0 еВ, зменшити внесок лоренціана та розділити особливість у максимумі спектра. Метод може бути застосовано для вирішення проблеми виділення сигналу з шуму, а також у тих областях спектроскопії, де використовується методика підрахунку одноелектронних імпульсів, зокрема в корпускулярній спектроскопії: електронній та іонній спектроскопії і масспектрометрії, в растровій електронній мікроскопії.","PeriodicalId":20898,"journal":{"name":"Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine","volume":"133 ","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-11-22","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Новий метод визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії\",\"authors\":\"О.М. Кордубан, М.М. Медведський, Д.О. Кордубан\",\"doi\":\"10.15407/dopovidi2023.05.047\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Розроблено новий метод інструментального визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії (РФС). Вперше показано принципову можливість отримання апаратної функції спектрометра доповненням стандартних вихідних даних РФС додатковою інформацією у вигляді розподілів амплітуд одноелектронних імпульсів для кожної точки спектра. Метод не містить суб’єктивних критеріїв вибору параметрів спектра РФС, притаманних математичним методам деконволюції. Алгоритм методу ґрунтується на аналізі функції амплітудного розподілу імпульсів у кожній точці спектра за критерієм величини співвідношення сигнал/шум. Показано, що застосування методу дає змогу зменшити ширину лінії Cu2p3/2-рівня з 1,2 до 1,0 еВ, зменшити внесок лоренціана та розділити особливість у максимумі спектра. Метод може бути застосовано для вирішення проблеми виділення сигналу з шуму, а також у тих областях спектроскопії, де використовується методика підрахунку одноелектронних імпульсів, зокрема в корпускулярній спектроскопії: електронній та іонній спектроскопії і масспектрометрії, в растровій електронній мікроскопії.\",\"PeriodicalId\":20898,\"journal\":{\"name\":\"Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine\",\"volume\":\"133 \",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2023-11-22\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.15407/dopovidi2023.05.047\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.15407/dopovidi2023.05.047","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
摘要
我们开发了一种新方法,用于用仪器测定 X 射线光电子能谱(XPS)的硬件功能。该方法首次证明,通过对 XPS 的标准输出数据进行补充,以光谱中每个点的单电子脉冲振幅分布形式提供额外信息,可以获得光谱仪的硬件功能。该方法不包含选择 SEM 光谱参数的主观标准,而这是数学解卷积方法所固有的。该方法的算法基于根据信噪比标准对光谱各点脉冲振幅分布函数的分析。结果表明,应用该方法可以将 Cu2p3/2 级线的宽度从 1.2 eV 减小到 1.0 eV,减少洛伦兹线的贡献,并分离光谱最大值处的特征。该方法可用于解决从噪声中分离信号的问题,也可用于使用单电子脉冲计数法的光谱学领域,特别是粒子光谱学:电子和离子光谱学、质谱分析、扫描电子显微镜。
Новий метод визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії
Розроблено новий метод інструментального визначення апаратної функції в рентгенівській фотоелектронній спектроскопії (РФС). Вперше показано принципову можливість отримання апаратної функції спектрометра доповненням стандартних вихідних даних РФС додатковою інформацією у вигляді розподілів амплітуд одноелектронних імпульсів для кожної точки спектра. Метод не містить суб’єктивних критеріїв вибору параметрів спектра РФС, притаманних математичним методам деконволюції. Алгоритм методу ґрунтується на аналізі функції амплітудного розподілу імпульсів у кожній точці спектра за критерієм величини співвідношення сигнал/шум. Показано, що застосування методу дає змогу зменшити ширину лінії Cu2p3/2-рівня з 1,2 до 1,0 еВ, зменшити внесок лоренціана та розділити особливість у максимумі спектра. Метод може бути застосовано для вирішення проблеми виділення сигналу з шуму, а також у тих областях спектроскопії, де використовується методика підрахунку одноелектронних імпульсів, зокрема в корпускулярній спектроскопії: електронній та іонній спектроскопії і масспектрометрії, в растровій електронній мікроскопії.