用透射电子显微镜(tem)研究金属。局部化学分析

M. Karlík, B. Jouffrey
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摘要

为了了解材料的性能,越来越多地使用电子显微镜中的局部化学分析。本文件以实用的方式描述了目前显微镜的两种技术:特性X射线分析和能量损失光谱法。在能量损失部分,低能量跃迁,如等离子体激发,带间跃迁或切伦科夫效应没有处理。只讨论了原子电离阈值的使用。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Analyse chimique locale
Pour la comprehension des proprietes des materiaux, l'analyse chimique locale en microscopie electronique est de plus en plus utilisee. Dans ce dossier, sont decrites, de maniere pratique, les deux techniques qui equipent les microscopes actuels, l'analyse des rayons X caracteristiques et la spectrometrie des pertes d'energie. Dans la partie pertes d'energie, les transitions de faible energie, telles qu’excitations de plasmons, transitions interbandes ou effet Cerenkov ne sont pas traitees. Seule l'utilisation des seuils d'ionisation caracteristiques des atomes est abordee.
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