{"title":"lengmur - blogett量子点中的晶体结构和普遍缺陷","authors":"К.А. Свит, К. А. Зарубанов, Т. А. Дуда","doi":"10.34077/rcsp2021-62","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В данной работе кристаллическая структура и форма КТ CdS, полученных методом ЛенгмюраБлоджетт, изучались методами просвечивающей электронной микроскопии, спектроскопии тонкой\nструктуры расширенного поглощения рентгеновских лучей (EXAFS) и ультрафиолетовой\nспектроскопии. Для определения\nпреобладающих дефектов поверхности\nиспользовались методы рентгеновской\nфотоэлектронной спектроскопии (XPS) и\nстационарной фотолюминесцентной\nспектроскопии (ФЛ).","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"70 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Кристаллическая структура и преобладающие дефекты в квантовых точках CdS,\\nсформированных методом Ленгмюра-Блоджетт\",\"authors\":\"К.А. Свит, К. А. Зарубанов, Т. А. Дуда\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2021-62\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В данной работе кристаллическая структура и форма КТ CdS, полученных методом ЛенгмюраБлоджетт, изучались методами просвечивающей электронной микроскопии, спектроскопии тонкой\\nструктуры расширенного поглощения рентгеновских лучей (EXAFS) и ультрафиолетовой\\nспектроскопии. Для определения\\nпреобладающих дефектов поверхности\\nиспользовались методы рентгеновской\\nфотоэлектронной спектроскопии (XPS) и\\nстационарной фотолюминесцентной\\nспектроскопии (ФЛ).\",\"PeriodicalId\":356596,\"journal\":{\"name\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"volume\":\"70 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2021-09-27\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-62\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-62","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Кристаллическая структура и преобладающие дефекты в квантовых точках CdS,
сформированных методом Ленгмюра-Блоджетт
В данной работе кристаллическая структура и форма КТ CdS, полученных методом ЛенгмюраБлоджетт, изучались методами просвечивающей электронной микроскопии, спектроскопии тонкой
структуры расширенного поглощения рентгеновских лучей (EXAFS) и ультрафиолетовой
спектроскопии. Для определения
преобладающих дефектов поверхности
использовались методы рентгеновской
фотоэлектронной спектроскопии (XPS) и
стационарной фотолюминесцентной
спектроскопии (ФЛ).