红外物镜频率对比特性测定

В. В. Васильев, А. В. Вишняков, Г. И. Сидоров
{"title":"红外物镜频率对比特性测定","authors":"В. В. Васильев, А. В. Вишняков, Г. И. Сидоров","doi":"10.34077/rcsp2021-54","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в котором\nиспользуется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленным\nна кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурными\nщелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственное\nразрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"3 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Определение частотно-контрастной характеристики ИК объективов\",\"authors\":\"В. В. Васильев, А. В. Вишняков, Г. И. Сидоров\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2021-54\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в котором\\nиспользуется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленным\\nна кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурными\\nщелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственное\\nразрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.\",\"PeriodicalId\":356596,\"journal\":{\"name\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"volume\":\"3 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2021-09-27\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-54\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-54","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

摘要

本文提出了一种测定红外镜基质的方法,其中使用了基质红外光镜,并将其与镀银底座金属底座结合起来。在这种情况下,顶点光电接收器的空间分辨率是由缝隙的宽度决定的。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Определение частотно-контрастной характеристики ИК объективов
В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в котором используется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленным на кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурными щелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственное разрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.
求助全文
通过发布文献求助,成功后即可免费获取论文全文。 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信