{"title":"红外物镜频率对比特性测定","authors":"В. В. Васильев, А. В. Вишняков, Г. И. Сидоров","doi":"10.34077/rcsp2021-54","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в котором\nиспользуется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленным\nна кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурными\nщелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственное\nразрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"3 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Определение частотно-контрастной характеристики ИК объективов\",\"authors\":\"В. В. Васильев, А. В. Вишняков, Г. И. Сидоров\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2021-54\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в котором\\nиспользуется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленным\\nна кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурными\\nщелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственное\\nразрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.\",\"PeriodicalId\":356596,\"journal\":{\"name\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"volume\":\"3 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2021-09-27\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-54\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-54","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Определение частотно-контрастной характеристики ИК объективов
В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в котором
используется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленным
на кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурными
щелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственное
разрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.