同步加速器X射线断层扫描在材料科学中的应用

Étude et propriétés des métaux Pub Date : 2016-02-01 DOI:10.51257/a-v1-m4398

Eric Maire, Pierre Lhuissier, L. Salvo

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摘要

X射线层析成像以非破坏性的方式提供了样品中相分布的三维可视化，分辨率为微米级。将该技术与所研究材料的应力相结合，就有可能精确地描述应力与内部结构之间的相互作用。本文介绍了X射线层析成像所需的不同元素，并举例说明了原位层析成像对材料科学问题的贡献。

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Tomographie aux rayons X synchrotron appliquée à la science des matériaux

La tomographie aux rayons X donne acces de maniere non destructive a une visualisation en 3D avec une resolution de l’ordre du micrometre de la distribution des phases dans un echantillon. Le couplage de la technique avec une sollicitation du materiau etudie permet de caracteriser finement les interactions entre sollicitation et structure interne. Dans cet article, les differents elements necessaires a la tomographie aux rayons X sont presentes, puis quelques exemples d’apport de la tomographie in situ a des problematiques de science des materiaux sont decrits.

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