Виктор Николаевич Федоринин, С. А. Кузнецов, А. В. Гельфанд
{"title":"复合材料诊断问题亚毫米范围椭圆","authors":"Виктор Николаевич Федоринин, С. А. Кузнецов, А. В. Гельфанд","doi":"10.34077/rcsp2021-50","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В настоящей работе рассматривается техника эллипсометрии с использованием субмиллиметровых\nволн для диагностики оптически непрозрачных композиционных материалов. Объемная структура\nкомпозиционного материала рассматривается как гетерогенная среда, которая характеризуется\nкомплексной диэлектрической функцией. В рамках однослойной физической модели рассматривается\nвозможность регистрации расслоения в многослойной пленочной структуре композиционного\nматериала, изготовленного на основе препрег Torayca T800.","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"105 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Эллипсометрия субмиллиметрового диапазона в задачах диагностики композиционных\\nматериалов\",\"authors\":\"Виктор Николаевич Федоринин, С. А. Кузнецов, А. В. Гельфанд\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2021-50\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В настоящей работе рассматривается техника эллипсометрии с использованием субмиллиметровых\\nволн для диагностики оптически непрозрачных композиционных материалов. Объемная структура\\nкомпозиционного материала рассматривается как гетерогенная среда, которая характеризуется\\nкомплексной диэлектрической функцией. В рамках однослойной физической модели рассматривается\\nвозможность регистрации расслоения в многослойной пленочной структуре композиционного\\nматериала, изготовленного на основе препрег Torayca T800.\",\"PeriodicalId\":356596,\"journal\":{\"name\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"volume\":\"105 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2021-09-27\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-50\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-50","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Эллипсометрия субмиллиметрового диапазона в задачах диагностики композиционных
материалов
В настоящей работе рассматривается техника эллипсометрии с использованием субмиллиметровых
волн для диагностики оптически непрозрачных композиционных материалов. Объемная структура
композиционного материала рассматривается как гетерогенная среда, которая характеризуется
комплексной диэлектрической функцией. В рамках однослойной физической модели рассматривается
возможность регистрации расслоения в многослойной пленочной структуре композиционного
материала, изготовленного на основе препрег Torayca T800.