应用断层成像方法分析阻龋釉质表面透明表层

背景光学相干断层扫描（OCT）可以获取体内病变结构的高分辨率图像，以评估病变的活动性。阻止性釉质龋齿病变（ECLs）的表层比病变体具有更高的矿物质含量，其孔隙率降低，从而抑制液体渗透到病变中，并出现反射率降低的OCT。本研究旨在使用微型计算机断层扫描（microCT）来测量OCT图像上出现的透明表层（TSL）的矿物质含量。方法采用OCT和microCT分别对20个模拟停驻ECL的牛釉质样品、44个近端ECL的拔除牙、10个咬合ECL和17个氟中毒性病变进行反射率和相对矿物密度测量。TSL厚度（OCT）、表面层厚度（microCT）以及TSL的最小和最大密度由匹配的OCT和microCT剖面确定。结果所有样品，用OCT测量的TSL厚度明显小于用microCT测量的表层厚度（P<；.05）。TSL中的平均最大矿物密度在统计学上与正常人牙釉质相似（P>；.05），并且明显高于TSL的平均最小矿物密度（P<）。结论用OCT测得的TSL的最大矿物密度接近声音釉质的那些，表明TSL中已经发生了几乎完全的再矿化。这项研究进一步证实了OCT图像中TSL的存在是病变停止的关键指标。