HAXPES reference spectra of CeO2 with Cr Kα excitation

IF 1.6 Q3 PHYSICS, CONDENSED MATTER

Surface Science Spectra Pub Date : 2024-01-26 DOI:10.1116/6.0003208

Dong Zheng, Christopher N. Young, W. Stickle

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Abstract

Hard x-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES) using monochromatic Cr Kα radiation (5414.8 eV) has been used to acquire XPS and Auger data on an argon gas cluster-sputtered CeO2 sample. Survey data, high-resolution scans of all observed photoelectron peaks, and high-resolution scans of Auger lines are presented herein.

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铬 Kα 激发下 CeO2 的 HAXPES 参考光谱

使用单色 Cr Kα 辐射（5414.8 eV）的硬 X 射线光电子能谱 (HAXPES) 获得了氩气簇溅射 CeO2 样品的 XPS 和奥杰线数据。本文介绍了测量数据、所有观测到的光电子峰的高分辨率扫描以及奥杰线的高分辨率扫描。

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Surface Science Spectra PHYSICS, CONDENSED MATTER-

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