{"title":"YAŞLANDIRMA SONRASI YÜZEY İŞLEMLERİNİN, ZİRKONYUM OKSİT SERAMİKLERİN BAĞLANTI DİRENCİ ÜZERİNE ETKİSİ","authors":"Goknil ALKAN DEMETOĞLU, Mustafa ZORTUK","doi":"10.34108/eujhs.1321916","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Bu çalışmanın amacı farklı yüzey işlemleri uygulanmış zirkonya seramiğe rezin siman bağlantısının değerlendirilmesidir. Final boyutu 10 x 10 x 2 mm olan toplam 72 adet zirkonya örnek elde edilmiştir. Farklı yüzey hazırlıklarına tabi tutulmak üzere rastgele 12’şerli 6 gruba ayrılan örneklerden 1. grup yüzey işlemi uygulanmadan kontrol grubu olarak ayrıldı. 110 µ’lukAl2O3 kumu ile pürüzlendirilen örnekler 2. grubu ve 110 µ’lukAl2O3 kumu ile pürüzlendirildikten sonra silika kaplanan ve silan uygulanan örnekler ise 3. grubu oluşurdu. 4.gruptaki örneklere ise çift kat Zirconia Primer uygulandı. Hava ile 10 sn kibarca kurutuldu 20 sn 800 mW/cm2 ışıkla polimerize edildi. 5. gruptaki örnekler, Nd: YAG lazer cihazı kullanılarak pürüzlendirildiler. Cihazın paneli 20 Hz, 100mJ, 2W, 100µs olacak şekilde ayarlandı. 6. gruptaki örneklerde cihaz; 20 Hz, 150mJ 3W 100µs olarak ayarlandı. Yüksekliği 3 mm ve çapı 3.6 mm olan siman bloklar Panavia F 2.0 (Kuraray Medical Inc., Japonya) rezin simandan üretildi ve zirkonya örneklere simante edildi. Örnekler 2 hafta oda sıcaklığındaki suda bekletildikten sonra termal döngü cihazında, 5-55 ºC’de, 6000 döngü uygulandı. Örnekler yarıçapı ve yüksekliği 1 cm olan akrilik bloklara yerleştirilerek makaslama testine tabi tutuldu. Bağlanma değeri verileri tek yönlü varyans analizi ve Duncan testi kullanılarak analiz edildi (a=.05). Her grubun ortalamaları tek yönlü varyans analizi ile değerlendirildi. Buna göre en yüksek değerler 3. grupta bulunmuş, bunu 6. grup takip etmiştir. En düşük değer ise kontrol grubunda bulunmuştur. Örnekler taramalı elektron mikroskobunda (SEM) ve Atomik kuvvet mikroskobunda (AFM ) incelenmiş, profilometre cihazında pürüzlülük değerleri ölçülmüştür.","PeriodicalId":184686,"journal":{"name":"Sağlık Bilimleri Dergisi","volume":"50 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-10-11","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Sağlık Bilimleri Dergisi","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34108/eujhs.1321916","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Bu çalışmanın amacı farklı yüzey işlemleri uygulanmış zirkonya seramiğe rezin siman bağlantısının değerlendirilmesidir. Final boyutu 10 x 10 x 2 mm olan toplam 72 adet zirkonya örnek elde edilmiştir. Farklı yüzey hazırlıklarına tabi tutulmak üzere rastgele 12’şerli 6 gruba ayrılan örneklerden 1. grup yüzey işlemi uygulanmadan kontrol grubu olarak ayrıldı. 110 µ’lukAl2O3 kumu ile pürüzlendirilen örnekler 2. grubu ve 110 µ’lukAl2O3 kumu ile pürüzlendirildikten sonra silika kaplanan ve silan uygulanan örnekler ise 3. grubu oluşurdu. 4.gruptaki örneklere ise çift kat Zirconia Primer uygulandı. Hava ile 10 sn kibarca kurutuldu 20 sn 800 mW/cm2 ışıkla polimerize edildi. 5. gruptaki örnekler, Nd: YAG lazer cihazı kullanılarak pürüzlendirildiler. Cihazın paneli 20 Hz, 100mJ, 2W, 100µs olacak şekilde ayarlandı. 6. gruptaki örneklerde cihaz; 20 Hz, 150mJ 3W 100µs olarak ayarlandı. Yüksekliği 3 mm ve çapı 3.6 mm olan siman bloklar Panavia F 2.0 (Kuraray Medical Inc., Japonya) rezin simandan üretildi ve zirkonya örneklere simante edildi. Örnekler 2 hafta oda sıcaklığındaki suda bekletildikten sonra termal döngü cihazında, 5-55 ºC’de, 6000 döngü uygulandı. Örnekler yarıçapı ve yüksekliği 1 cm olan akrilik bloklara yerleştirilerek makaslama testine tabi tutuldu. Bağlanma değeri verileri tek yönlü varyans analizi ve Duncan testi kullanılarak analiz edildi (a=.05). Her grubun ortalamaları tek yönlü varyans analizi ile değerlendirildi. Buna göre en yüksek değerler 3. grupta bulunmuş, bunu 6. grup takip etmiştir. En düşük değer ise kontrol grubunda bulunmuştur. Örnekler taramalı elektron mikroskobunda (SEM) ve Atomik kuvvet mikroskobunda (AFM ) incelenmiş, profilometre cihazında pürüzlülük değerleri ölçülmüştür.