Extended TID, ELDRS and SEE Hardening and Testing on Mixed Signal Telemetry LX7730 Controller

M. Sureau, Russell Stevens, M. Leuenberger, N. Rezzak, Dorian Johnson, Kathy Zhang

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Abstract

Extended TID test results up to 300krad TID for the first radiation hardened analog mixed-signal telemetry controller IC, the LX7730, are presented.

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LX7730混合信号遥测控制器的扩展TID, ELDRS和SEE硬化与测试

介绍了第一款抗辐射模拟混合信号遥测控制器IC LX7730的扩展TID测试结果，该测试结果高达300krad TID。

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