Single event upset characterization of the Tegra K1 mobile processor using proton irradiation

2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 2017-07-01 DOI:10.1109/NSREC.2017.8115446

Haibin Wang, Qingyu Chen, Li Chen, D. Hiemstra, V. Kirischian

引用次数: 6

Abstract

Vroton induced SEU cross-sections of Tegra K1 mobile processor are presented. Overall upset rates of Tegra K1 in the space radiation environment are estimated.

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Tegra K1移动处理器的质子辐照单事件扰动表征

给出了Tegra K1移动处理器的Vroton诱导SEU截面。估算了Tegra K1在空间辐射环境中的总体扰动率。

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2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)

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