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2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - 最新文献
Single-event effects characterization of a 12-bit 200MSps A-to-D converter in 32nm SOI CMOS with MilliBeam™ and broad-beam heavy-ions
Pub Date : 2017-07-17 DOI: 10.1109/NSREC.2017.8115441 A. Zanchi, M. Cabañas-Holmen, Paul Eaton, Will Burke, R. BreesAn improved SEL test of the ADV212 video codec
Pub Date : 2017-07-17 DOI: 10.1109/NSREC.2017.8115482 E. Wilcox, M. Campola, Seshagiri Nadendla, Madhu Kadari, Robert A. GigliutoSpace and terrestrial radiation response of silicon carbide power MOSFETs
Pub Date : 2017-07-17 DOI: 10.1109/NSREC.2017.8115467 A. Akturk, J. McGarrity, R. Wilkins, Adam Markowski, Brendan Cusack
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