The Operation Algorithm for Improving the Reliability of TLC (Triple Level Cell) NAND Flash Characteristics

2011 3rd IEEE International Memory Workshop (IMW) Pub Date : 2011-05-22 DOI:10.1109/IMW.2011.5873234

Dong Wook Lee, Sung-Soon Cho, B. Kang, Sukkwang Park, Byoungjun Park, M. Cho, K. Ahn, Y. Yang, Sung Wook Park

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提高TLC (Triple Level Cell) NAND闪存特性可靠性的运算算法

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