Line-Reflect-Match Calibrations with Nonideal Microstrip Standards

46th ARFTG Conference Digest Pub Date : 1995-11-01 DOI:10.1109/ARFTG.1995.327130

Dylan F. Williams, J. Schappacher

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Abstract

We apply a previously developed Line-Reflect-Match (LRM) calibration that compensates for the nonideal electrical behavior of the match standard to microstrip transmission lines and investigate impedance definitions, standard parasitics, and calibration accuracy.

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非理想微带标准线反射匹配校准

我们将先前开发的线反射匹配(LRM)校准应用于微带传输线，该校准补偿了匹配标准的非理想电气行为，并研究了阻抗定义，标准寄生和校准精度。

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46th ARFTG Conference Digest

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