Vector memory expansion system for T33XX logic tester

Proceedings of the 11th Asian Test Symposium, 2002. (ATS '02). Pub Date : 2002-11-18 DOI:10.1109/ATS.2002.1181743

Kazuhiro Yamada, Yoshikazu Takahashi

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Abstract

This paper describes a low-cost memory expansion system for the Advantest T33XX logic tester series. Using this system, the T33XX tester has the same capability as the T6672 tester. This system allows the T33XX to be used for ASIC wafer testing until 2010.

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Proceedings of the 11th Asian Test Symposium, 2002. (ATS '02).

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