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Proceedings of the 11th Asian Test Symposium, 2002. (ATS '02). - 最新文献
High precision result evaluation of VLSI
Pub Date : 2002-11-18 DOI: 10.1109/ATS.2002.1181679 J. HiraseNon-scan design for testability based on fault oriented conflict analysis
Pub Date : 2002-11-18 DOI: 10.1109/ATS.2002.1181691 D. Xiang, Shan Gu, H. FujiwaraA new learning approach to design fault tolerant ANNs: finally a zero HW-SW overhead
Pub Date : 2002-11-18 DOI: 10.1109/ATS.2002.1181714 F. Vargas, D. Lettnin, D. Brum, D. Prestes
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