Radiation and life test procedures for military and aerospace memory components

Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing Pub Date : 1993-08-09 DOI:10.1109/MT.1993.263139

R. Chrusciel

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Abstract

The author presents part qualification, characterization and testing procedures for memory (static/dynamic RAM) components, intended for military and aerospace use. The procedures provide quick and low cost evaluation of commercial technology transferred to mil/aerospace systems.<>

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军用和航空航天存储部件的辐射和寿命试验程序

作者介绍了用于军事和航空航天用途的存储器(静态/动态RAM)部件的零件鉴定、表征和测试程序。这些程序为转移到军事/航空航天系统的商业技术提供了快速和低成本的评估

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Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing

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