查看最新文献
订阅
分享
674发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing - 最新文献
An inexpensive method of detecting localised parametric defects in static RAM
Pub Date : 1993-08-09 DOI: 10.1109/MT.1993.263143 Y. Savaria, C. ThibeaultKey attributes of an SRAM testing strategy required for effective process monitoring
Pub Date : 1993-08-09 DOI: 10.1109/MT.1993.263144 J. Khare, S. Griep, H.-D. Oberle, W. Maly, D. Schmitt-Landsiedel, U. Kollmer, D. WalkerOn-line and off-line testable design of random access memories
Pub Date : 1993-08-09 DOI: 10.1109/MT.1993.263154 S. Subramanian, P. Lala
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
