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Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing - 最新文献
An inexpensive method of detecting localised parametric defects in static RAM
Pub Date : 1993-08-09 DOI: 10.1109/MT.1993.263143 Y. Savaria, C. ThibeaultKey attributes of an SRAM testing strategy required for effective process monitoring
Pub Date : 1993-08-09 DOI: 10.1109/MT.1993.263144 J. Khare, S. Griep, H.-D. Oberle, W. Maly, D. Schmitt-Landsiedel, U. Kollmer, D. WalkerOn-line and off-line testable design of random access memories
Pub Date : 1993-08-09 DOI: 10.1109/MT.1993.263154 S. Subramanian, P. Lala
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