Scanning Microwave Impedance Microscopy: Overview and Low Temperature Operation

EDFA Technical Articles Pub Date : 2023-02-01 DOI:10.31399/asm.edfa.2023-1.p009

N. Antoniou

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Abstract

Scanning microwave impedance microscopy is a nearfield technique using microwaves to probe the electrical properties of materials with nanoscale lateral resolution.

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