Single event upset characterization of the Pentium/sup /spl reg// 4, Pentium/sup /spl reg// III and low power Pentium/sup /spl reg// MMX microprocessors using proton irradiation

IEEE Radiation Effects Data Workshop Pub Date : 2002-12-10 DOI:10.1109/REDW.2002.1045532

D. Hiemstra, S. Yu, M. Pop

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Abstract

Experimental single event upset characterization of the Pentium/sup /spl reg// 4, Pentium/sup /spl reg// III and Low Power Pentium/sup /spl reg// MMX microprocessors using proton irradiation is presented. Results are compared with previous tests on other Pentium/sup /spl reg// microprocessors.

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