High energy proton irradiation results for the DSP cores of the KeyStone II system-on-chip (SoC) 66AK2L06

2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 2017-07-01 DOI:10.1109/NSREC.2017.8115447

Qingyu Chen, D. Hiemstra, Haibin Wang, Li Chen, V. Kirischian

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Abstract

Vroton induced SEU cross-section of DSP cores within the KeyStone™ II system-on-chip 66AK2L06 is presented. Upset rates in the space radiation environment are estimated.

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KeyStone II片上系统(SoC) 66AK2L06 DSP核的高能质子辐照结果

提出了KeyStone™II片上系统66AK2L06中DSP内核的Vroton诱导SEU截面。估算了空间辐射环境下的扰动率。

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