{"title":"Влияние лазерной засветки на распознавание объектов оптико-электронными\nсистемами на основе ИК матричных фотоприемных устройств","authors":"Д. С. Конради, М. В. Сахаров, В. Г. Средин","doi":"10.34077/rcsp2021-44","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Для оценки\nвозможностей корреляционные алгоритмов, с помощью\nкоторых производится сопоставление построенного изображения с заданным шаблоном с учетом\nяркости отдельных формирующих его пикселей, в условиях внеполевой засветки была разработана\nсоответствующая модель стандартного изображения разнородного подстилающего фона с\nразмещенными на нем различными геометрическими фигурами [4], в которой в зависимости от угла\nпадения лазерного излучения на входную апертуру ОЭС и его мощности изменялось количество\nзасвеченных пикселей в формируемом\nизображении.","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"27 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-44","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Для оценки
возможностей корреляционные алгоритмов, с помощью
которых производится сопоставление построенного изображения с заданным шаблоном с учетом
яркости отдельных формирующих его пикселей, в условиях внеполевой засветки была разработана
соответствующая модель стандартного изображения разнородного подстилающего фона с
размещенными на нем различными геометрическими фигурами [4], в которой в зависимости от угла
падения лазерного излучения на входную апертуру ОЭС и его мощности изменялось количество
засвеченных пикселей в формируемом
изображении.