A method to calculate redundancy coverage for FLASH memories

Proceedings 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing Pub Date : 2001-08-06 DOI:10.1109/MTDT.2001.945226

S. Matarrese, L. Fasoli

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Abstract

Presents a method to calculate the redundancy coverage for FLASH memory. The method can be used to compare different redundancy architectures and gives the probability of repairing a certain number of random failures. After a brief introduction, the hypothesis and the method are presented. Some illustrative examples are provided.

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Proceedings 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing

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