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Proceedings 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing - 最新文献
A DRAM compiler for fully optimized memory instances
Pub Date : 2001-08-06 DOI: 10.1109/MTDT.2001.945221 G. HarlingAn error control code scheme for multilevel Flash memories
Pub Date : 2001-08-06 DOI: 10.1109/MTDT.2001.945227 S. Gregori, G. Torelli, O. Khouri, R. MicheloniA parallel approach for testing multi-port static random access memories
Pub Date : 2001-08-06 DOI: 10.1109/MTDT.2001.945233 F. Karimi, F. Lombardi, V. S. Irrinki, T. Crosby
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