HIGH-RESOLUTION X-RAY DIFFRACTION INVESTIGATIONS OF FILMS OF SOLID SOLUTIONS (GaAs)1-x-y(Ge2)x(ZnSe)y
SEMOCONDUCTOR PHYSICS AND MICROELECTRONICS
Pub Date : 2021-10-30
DOI:10.37681/2181-1652-019-x-2021-5-8
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Abstract
HIGH-RESOLUTION X-RAY DIFFRACTION INVESTIGATIONS OF FILMS OF SOLID SOLUTIONS (GaAs)1-x-y(Ge2)x(ZnSe)y固溶体(GaAs)1-x-y(Ge2)x(ZnSe)y薄膜的高分辨率x射线衍射研究
固溶体(GaAs)1-x-y(Ge2)x(ZnSe)y薄膜的高分辨率x射线衍射研究
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