Heavy ion latch-up test on dsPIC microcontroller to be used in ExoMars 2020 mission

2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 2017-07-01 DOI:10.1109/NSREC.2017.8115481

P. Manzano, M. Álvarez, S. Sampedro, M. Rivas, I. Traseira, J. Manzano, J. R. Mingo, A. Martín-Ortega, N. Andrés

引用次数: 3

Abstract

Heavy ion latch-up test on Microchip microcontroller dsPIC30F6014A has been performed in order to analyze its suitability for ExoMars 2020 mission. The estimation of SEL rate shows the applicability of the microcontroller for non-critical functions.

查看原文本刊更多论文

用于ExoMars 2020任务的dsPIC微控制器的重离子锁存测试

为了分析其在ExoMars 2020任务中的适用性，在Microchip微控制器dsPIC30F6014A上进行了重离子闭锁测试。SEL率的估计显示了微控制器对非关键功能的适用性。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)

自引率

0.00%

发文量