МЕТОДИ ВИМІРЮВАННЯ ОПОРУ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ

О. В. Осадчук, Ярослав Осадчук, Денис Думенко, Олександр Стальченко
{"title":"МЕТОДИ ВИМІРЮВАННЯ ОПОРУ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ","authors":"О. В. Осадчук, Ярослав Осадчук, Денис Думенко, Олександр Стальченко","doi":"10.36994/2788-5518-2022-01-03-13","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В статті розглянуті основні методи вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, які дають змогу отримати точні результати для правильного визначення необхідних параметрів компонентів напівпровідникових систем. Використання даних методів дозволяє відносно точно оцінити властивість кінченого компоненту для застосування в реальних умовах по заданих розрахунках. Аналіз сучасних систем вимірювання параметрів компонентів показав, що в реальних працюючих системах стаються збої через неперевірені властивості компонентів ще на етапі Vinnytsia, Ukraine, виробництва таких систем, а також готові системи, через деякий час роботи, перестають відповідати заданим вимогам, через що їхнє застосування являється недоцільним, адже вже не виконує у необхідному обсягу поставлених завдань та цілей. Насамперед, це наслідок деградації матеріалу компонента з якого він був виготовлений, під впливом високих температур або порушення режимів роботи. Проте, велика кількість таких проблем виникає через відсутність необхідного контролю параметрів того чи іншого компонента на етапах виробництва готових систем. Тому, впровадження вимірювань параметрів компонентів актуально на найперших етапах, що дозволить підвищити надійність таких систем як наслідок, а в першу чергу це забезпечить відповідність роботи системи тим вимогам й режимам які закладалися на моменті формування технічного завдання майбутньої розробки. Одним із таких параметрів є опір напівпровідникових компонентів, правильне вимірювання якого є досить складним процесом, яке потребує дороговартісного високоточного обладнання та додаткових приготувань матеріалу. Але в залежності від цілей, матеріалів та конкретних вимог можливе застосування того, чи іншого методу вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, що повинно забезпечити необхідну нам точність й надати результати, опираючись на які можливо суттєво покращити вибір правильного режиму роботи пристрою, його працездатність в цілому, надійність та довговічність роботи системи.","PeriodicalId":165726,"journal":{"name":"Інфокомунікаційні та комп’ютерні технології","volume":"5 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-08-08","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Інфокомунікаційні та комп’ютерні технології","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.36994/2788-5518-2022-01-03-13","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

Abstract

В статті розглянуті основні методи вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, які дають змогу отримати точні результати для правильного визначення необхідних параметрів компонентів напівпровідникових систем. Використання даних методів дозволяє відносно точно оцінити властивість кінченого компоненту для застосування в реальних умовах по заданих розрахунках. Аналіз сучасних систем вимірювання параметрів компонентів показав, що в реальних працюючих системах стаються збої через неперевірені властивості компонентів ще на етапі Vinnytsia, Ukraine, виробництва таких систем, а також готові системи, через деякий час роботи, перестають відповідати заданим вимогам, через що їхнє застосування являється недоцільним, адже вже не виконує у необхідному обсягу поставлених завдань та цілей. Насамперед, це наслідок деградації матеріалу компонента з якого він був виготовлений, під впливом високих температур або порушення режимів роботи. Проте, велика кількість таких проблем виникає через відсутність необхідного контролю параметрів того чи іншого компонента на етапах виробництва готових систем. Тому, впровадження вимірювань параметрів компонентів актуально на найперших етапах, що дозволить підвищити надійність таких систем як наслідок, а в першу чергу це забезпечить відповідність роботи системи тим вимогам й режимам які закладалися на моменті формування технічного завдання майбутньої розробки. Одним із таких параметрів є опір напівпровідникових компонентів, правильне вимірювання якого є досить складним процесом, яке потребує дороговартісного високоточного обладнання та додаткових приготувань матеріалу. Але в залежності від цілей, матеріалів та конкретних вимог можливе застосування того, чи іншого методу вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, що повинно забезпечити необхідну нам точність й надати результати, опираючись на які можливо суттєво покращити вибір правильного режиму роботи пристрою, його працездатність в цілому, надійність та довговічність роботи системи.
求助全文
约1分钟内获得全文 求助全文
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:604180095
Book学术官方微信