О. В. Осадчук, Ярослав Осадчук, Денис Думенко, Олександр Стальченко
{"title":"МЕТОДИ ВИМІРЮВАННЯ ОПОРУ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ","authors":"О. В. Осадчук, Ярослав Осадчук, Денис Думенко, Олександр Стальченко","doi":"10.36994/2788-5518-2022-01-03-13","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В статті розглянуті основні методи вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, які дають змогу отримати точні результати для правильного визначення необхідних параметрів компонентів напівпровідникових систем. Використання даних методів дозволяє відносно точно оцінити властивість кінченого компоненту для застосування в реальних умовах по заданих розрахунках. Аналіз сучасних систем вимірювання параметрів компонентів показав, що в реальних працюючих системах стаються збої через неперевірені властивості компонентів ще на етапі Vinnytsia, Ukraine, виробництва таких систем, а також готові системи, через деякий час роботи, перестають відповідати заданим вимогам, через що їхнє застосування являється недоцільним, адже вже не виконує у необхідному обсягу поставлених завдань та цілей. Насамперед, це наслідок деградації матеріалу компонента з якого він був виготовлений, під впливом високих температур або порушення режимів роботи. Проте, велика кількість таких проблем виникає через відсутність необхідного контролю параметрів того чи іншого компонента на етапах виробництва готових систем. Тому, впровадження вимірювань параметрів компонентів актуально на найперших етапах, що дозволить підвищити надійність таких систем як наслідок, а в першу чергу це забезпечить відповідність роботи системи тим вимогам й режимам які закладалися на моменті формування технічного завдання майбутньої розробки. Одним із таких параметрів є опір напівпровідникових компонентів, правильне вимірювання якого є досить складним процесом, яке потребує дороговартісного високоточного обладнання та додаткових приготувань матеріалу. Але в залежності від цілей, матеріалів та конкретних вимог можливе застосування того, чи іншого методу вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, що повинно забезпечити необхідну нам точність й надати результати, опираючись на які можливо суттєво покращити вибір правильного режиму роботи пристрою, його працездатність в цілому, надійність та довговічність роботи системи.","PeriodicalId":165726,"journal":{"name":"Інфокомунікаційні та комп’ютерні технології","volume":"5 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-08-08","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Інфокомунікаційні та комп’ютерні технології","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.36994/2788-5518-2022-01-03-13","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
В статті розглянуті основні методи вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, які дають змогу отримати точні результати для правильного визначення необхідних параметрів компонентів напівпровідникових систем. Використання даних методів дозволяє відносно точно оцінити властивість кінченого компоненту для застосування в реальних умовах по заданих розрахунках. Аналіз сучасних систем вимірювання параметрів компонентів показав, що в реальних працюючих системах стаються збої через неперевірені властивості компонентів ще на етапі Vinnytsia, Ukraine, виробництва таких систем, а також готові системи, через деякий час роботи, перестають відповідати заданим вимогам, через що їхнє застосування являється недоцільним, адже вже не виконує у необхідному обсягу поставлених завдань та цілей. Насамперед, це наслідок деградації матеріалу компонента з якого він був виготовлений, під впливом високих температур або порушення режимів роботи. Проте, велика кількість таких проблем виникає через відсутність необхідного контролю параметрів того чи іншого компонента на етапах виробництва готових систем. Тому, впровадження вимірювань параметрів компонентів актуально на найперших етапах, що дозволить підвищити надійність таких систем як наслідок, а в першу чергу це забезпечить відповідність роботи системи тим вимогам й режимам які закладалися на моменті формування технічного завдання майбутньої розробки. Одним із таких параметрів є опір напівпровідникових компонентів, правильне вимірювання якого є досить складним процесом, яке потребує дороговартісного високоточного обладнання та додаткових приготувань матеріалу. Але в залежності від цілей, матеріалів та конкретних вимог можливе застосування того, чи іншого методу вимірювання опору в напівпровідникових матеріалах, що повинно забезпечити необхідну нам точність й надати результати, опираючись на які можливо суттєво покращити вибір правильного режиму роботи пристрою, його працездатність в цілому, надійність та довговічність роботи системи.