Detection of Cd (II) and Pb (II) by anodic stripping voltammetry using glassy carbon electrodes modified with Ag-Hg and Ag-Bi bimetallic alloyed

D. Valera, Mireya Sánchez, J. Dominguez, P. Espinoza-Montero, Carlos Velasco-Medina, P. Carrera, Lenys Fernández
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Abstract

Presentamos la evaluación de los electrodos de carbono vítreo (GC) modificados con películas de Nafion (Nf) y depósitos bimetálicos de aleaciones Ag-Hg y Ag-Bi. La mayoría de los bimetálicos depositados, con un tamaño promedio de aproximadamente 150 nm, se dispersaron e incrustaron uniformemente dentro de la red del Nafion, mientras que una cantidad mucho menor permaneció encima de las incrustadas sin ninguna orientación regular, como lo indica imágenes de microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía de fuerza atómica (AFM). Las pruebas de sensibilidad para el electrodo modificado AgBiNf/GC produjeron límites de detección (DL), basados en la variabilidad de una solución en blanco (criterio de 3 s), de 0,78 y 0,66 μg L-1 para Cd (II) y Pb (II), respectivamente; mientras que el DL sobre el electrodo modificado AgHgNf/GC fue 0,17 y 0,24 μg L-1 para Cd (II) y Pb (II), respectivamente. La precisión de la metodología por voltametría de redisolución anódica se verificó mediante el cálculo de porcentajes de recuperación de los dos analitos, expresados como error relativo. Se logró una recuperación del 99% al 92%.
Ag-Hg和Ag-Bi双金属合金修饰的玻碳电极阳极溶出伏安法检测Cd (II)和Pb (II)
本文对Nafion薄膜(Nf)修饰的玻碳电极(GC)和Ag-Hg和Ag-Bi合金的双金属沉积进行了评价。大多数双金属温度的抵押金,平均规模约1.5 nm,分散网络和incrustaron均匀Nafion量少了,而很多被嵌入之上没有定期指导,这显示图像扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)。对AgBiNf/GC修饰电极的灵敏度测试结果显示,基于空白溶液的变异性(3 s标准),Cd (II)和Pb (II)的检出限分别为0.78和0.66 μg L-1;而AgHgNf/GC修饰电极上Cd (II)和Pb (II)的DL分别为0.17和0.24 μg L-1。通过计算两种分析物的回收率(以相对误差表示),验证了阳极重溶伏安法方法的准确性。实现了99%到92%的回收率。
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