The LSI data acquisition peripheral of the future

1980 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers Pub Date : 1900-01-01 DOI:10.1109/ISSCC.1980.1156105

J. Schoeff, J. Solomon

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Abstract

Performance limits, unique to large scale MOS and bipolar data acquisition ICs, will be examined. Comparisons between competing partitioning methods for LSI-based analog/ microcomputer systems will be made.

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未来的大规模集成电路数据采集外设

性能限制，独特的大规模MOS和双极数据采集集成电路，将被检查。将比较基于lsi的模拟/微型计算机系统的竞争划分方法。

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1980 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers

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