А.Е. Маричев, В.С. Эполетов, Александр Сергеевич Власов
{"title":"Замена туннельных переходов в структурах на основе InP на каналы проводимости.","authors":"А.Е. Маричев, В.С. Эполетов, Александр Сергеевич Власов","doi":"10.34077/rcsp2021-122","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В настоящее время, наиболее эффективные фотоэлементы изготавливаются на основе каскадных\nгетероструктур. В таких приборах фотоактивные p−n-переходы, работающие в разных спектральных\nдиапазонах, соединяются последовательно туннельными переходами с предельно высокими уровнями\nлегирования [1,2]. При достаточно высокой плотности излучения, генерируемый фототок может\nпревысить пиковый ток туннельных переходов, что ведет к увеличению сопротивления всей структуры\nи падению эффективности работы прибора [3].","PeriodicalId":356596,"journal":{"name":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","volume":"123 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-27","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ФОТОНИКА-2021 : ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ И ШКОЛЫ МОЛОДЫХ УЧЕНЫХ ПО АКТУАЛЬНЫМ ПРОБЛЕМАМ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ФОТОЭЛЕКТРОНИКИ","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2021-122","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
В настоящее время, наиболее эффективные фотоэлементы изготавливаются на основе каскадных
гетероструктур. В таких приборах фотоактивные p−n-переходы, работающие в разных спектральных
диапазонах, соединяются последовательно туннельными переходами с предельно высокими уровнями
легирования [1,2]. При достаточно высокой плотности излучения, генерируемый фототок может
превысить пиковый ток туннельных переходов, что ведет к увеличению сопротивления всей структуры
и падению эффективности работы прибора [3].