Microscopy (Oxford, England)

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Microscopy (Oxf)

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1.9

ISSN：

2050-5701

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2024年	1.9000

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Microscopy (Oxford, England) - 最新文献

Detection Limit of Defect-Induced Strain in GaN Evaluated by Valence EELS and Correlated Structural Analysis.

Pub Date : 2025-07-22 DOI: 10.1093/jmicro/dfaf034 Shunsuke Yamashita, Jun Kikkawa, Susumu Kusanagi, Ichiro Nomachi, Ryoji Arai, Yuya Kanitani, Koji Kimoto, Yoshihiro Kudo

Detection of low-energy backscattered electron in scanning electron microscopy using microchannel plate detector.

Pub Date : 2025-07-16 DOI: 10.1093/jmicro/dfaf033 Yuto Yanagihara, Yuanzhao Yao, Hayata Yamamoto, Takashi Sekiguchi

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Pub Date : 2025-06-26 DOI: 10.1093/jmicro/dfaf016 Mitsuo Suga, Yusuke Hirabayashi

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