2012 International Electron Devices Meeting

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2012 International Electron Devices Meeting - 最新文献

On the degradation of field-plate assisted RESURF power devices

Pub Date : 2012-12-10 DOI: 10.1109/IEDM.2012.6479036 B. Boksteen, S. Dhar, A. Ferrara, A. Heringa, R. Hueting, G. Koops, C. Salm, J. Schmitz

Performance comparison of III-V MOSFETs with source filter for electron energy

Pub Date : 2012-12-01 DOI: 10.1109/IEDM.2012.6479062 K. Lam, Y. Yeo, G. Liang

On the microscopic origin of the frequency dependence of hole trapping in pMOSFETs

Pub Date : 2012-12-01 DOI: 10.1109/IEDM.2012.6479076 T. Grasser, H. Reisinger, K. Rott, M. Toledano-Luque, B. Kaczer
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