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Journal of Electronic Testing - 最新文献
Wafer-level Adaptive Testing Based on Dual-Predictor Collaborative Decision
Pub Date : 2024-07-16 DOI: 10.1007/s10836-024-06125-7 Yuqi Pan, Huaguo Liang, Junming Li, Jinxing Qu, Zhengfeng Huang, Maoxiang Yi, Yingchun LuSyntactic and Semantic Analysis of Temporal Assertions to Support the Approximation of RTL Designs
Pub Date : 2024-04-23 DOI: 10.1007/s10836-024-06115-9 Alberto Bosio, Samuele Germiniani, G. Pravadelli, Marcello Traiola
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