Journal of X-Ray Science and Technology

SCI期刊
Journal of X-Ray Science and Technology
中文名称:
X射线科学与技术杂志
期刊缩写:
J. X-Ray Sci. Technol.
影响因子:
1.7
ISSN:
print: 0895-3996
on-line: 1095-9114
研究领域:
工程技术-光学
创刊年份:
1989年
h-index:
28
自引率:
23.30%
Gold OA文章占比:
5.91%
原创研究文献占比:
100.00%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
Research areas within the scope of the journal include: Interaction of x-rays with matter: x-ray phenomena, biological effects of radiation, radiation safety and optical constants X-ray sources: x-rays from synchrotrons, x-ray lasers, plasmas, and other sources, conventional or unconventional Optical elements: grazing incidence optics, multilayer mirrors, zone plates, gratings, other diffraction optics Optical instruments: interferometers, spectrometers, microscopes, telescopes, microprobes
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
4.90.5010.791
学科
排名
百分位
大类:Medicine
小类:Radiology, Nuclear Medicine and Imaging
103 / 333
69%
大类:Physics and Astronomy
小类:Radiation
19 / 58
68%
大类:Physics and Astronomy
小类:Instrumentation
46 / 141
67%
大类:Physics and Astronomy
小类:Condensed Matter Physics
141 / 434
67%
大类:Engineering
小类:Electrical and Electronic Engineering
264 / 797
66%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
3区 医学
3区 仪器仪表 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
3区 光学 OPTICS
3区 物理:应用 PHYSICS, APPLIED
WOS期刊分区
学科分类
Q3INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
Q3OPTICS
Q3PHYSICS, APPLIED
历年影响因子
2015年1.1110
2016年0.6990
2017年1.3810
2018年1.6620
2019年1.3420
2020年1.5350
2021年2.4420
2022年3.0000
2023年1.7000
历年发表
2012年42
2013年50
2014年60
2015年64
2016年74
2017年76
2018年75
2019年70
2020年97
2021年111
2022年150
投稿信息
出版周期:
Quarterly
出版语言:
English
出版国家(地区):
NETHERLANDS
审稿时长:
3 months
出版商:
IOS Press
编辑部地址:
IOS PRESS, NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG
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