IEEE Design & Test

SCI期刊
IEEE Design & Test
中文名称:
IEEE设计与测试
期刊缩写:
IEEE Des. Test
影响因子:
1.9
ISSN:
print: 2168-2356
研究领域:
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
h-index:
72
自引率:
5.00%
Gold OA文章占比:
6.08%
原创研究文献占比:
100.00%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods, and tools used to design and test microelectronic systems from devices and circuits to complete systems-on-chip and embedded software. The magazine focuses on current and near-future practice, and includes tutorials, how-to articles, and real-world case studies. The magazine seeks to bring to its readers not only important technology advances but also technology leaders, their perspectives through its columns, interviews, and roundtable discussions. Topics include semiconductor IC design, semiconductor intellectual property blocks, design, verification and test technology, design for manufacturing and yield, embedded software and systems, low-power and energy-efficient design, electronic design automation tools, practical technology, and standards.
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
3.80.4890.757
学科
排名
百分位
大类:Engineering
小类:Electrical and Electronic Engineering
354 / 797
55%
大类:Computer Science
小类:Hardware and Architecture
94 / 177
47%
大类:Computer Science
小类:Software
230 / 407
43%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
4区 工程技术
4区 计算机:硬件 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
4区 工程:电子与电气 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
WOS期刊分区
学科分类
Q3COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
Q3ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
历年影响因子
2015年0.6810
2016年1.3660
2017年1.5380
2018年3.0220
2019年2.4090
2020年1.5270
2021年2.2230
2022年2.0000
2023年1.9000
历年发表
2012年0
2013年169
2014年153
2015年131
2016年147
2017年142
2018年128
2019年110
2020年147
2021年163
2022年98
投稿信息
出版语言:
English
出版国家(地区):
UNITED STATES
出版商:
IEEE Computer Society
编辑部地址:
445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141

IEEE Design & Test - 最新文献

Exploring Resilience of LPDRAM against RowHammer

Pub Date : 2024-09-02 DOI: 10.1109/mdat.2024.3453197 Anandpreet Kaur, Pravin Srivastav, Bibhas Ghoshal

Silicon Lifecycle Management (SLM): Requirements, Trends, and Opportunities

Pub Date : 2024-09-02 DOI: 10.1109/mdat.2024.3453192 Mehdi Tahoori, Seyedeh Maryam Ghasemi, Yervant Zorian

Postquantum Cryptography for Internet of Things

Pub Date : 2024-08-28 DOI: 10.1109/mdat.2024.3419062 Partha Pratim Pande
查看全部
免责声明:
本页显示期刊或杂志信息,仅供参考学习,不是任何期刊杂志官网,不涉及出版事务,特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题,请联系我们,邮箱:info@booksci.cn,我们会认真核实处理。
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信