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2020 5th IEEE International Conference on Emerging Electronics (ICEE) - 最新文献
TCAD Based Reliability Assessment of Recess Gate AlGaN/GaN HEMT with Negative Gate Bias Induced Stress
Pub Date : 2020-11-26 DOI: 10.1109/icee50728.2020.9777048 V. Kumari, Amrutamayee Nayak, K. Sehra, Mridula Gupta, M. SaxenaOptimization of Transport Layer Thickness for Perovskite Solar Cells: An Optical Analysis
Pub Date : 2020-11-26 DOI: 10.1109/icee50728.2020.9777084 V. Sharma, Shubhangi Saini, R. PadmanabhanAugmentation in Frequency Modulation properties of PDLCs by addition of Ferroelectric Nanoparticles
Pub Date : 2020-11-26 DOI: 10.1109/icee50728.2020.9776981 A. Kumari, A. Sinha
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