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Proceedings International Conference on Microelectronic Test Structures - 最新文献
An automatic implementation of dynamic electromigration tests
Pub Date : 1995-03-22 DOI: 10.1109/ICMTS.1995.513980 Wei Zhang, Y.H. Cheng, Z.G. Li, W.L. Guo, Y.H. Sun, X.X. LiEvidence of a correlation between process yields and reliability data for a rad-hard SOI technology
Pub Date : 1995-03-22 DOI: 10.1109/ICMTS.1995.513976 V. Riviere, A. Touboul, S. B. Amor, G. Gregoris, J.L. Stevenson, P.S. YeungInfluence of short circuits on data of contact and via open circuits determined by a novel weave test structure
Pub Date : 1995-03-22 DOI: 10.1109/ICMTS.1995.513937 C. Hess, L. Weiland
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