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2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) - 最新文献
VLSI Test technology: Why is the field not sexy enough?
Pub Date : 2012-05-28 DOI: 10.1109/ETS.2012.6233047 S. Hamdioui, R. AitkenReducing test cost for mixed signal circuits “From TOETS to ELESIS”
Pub Date : 2012-05-28 DOI: 10.1109/ETS.2012.6233051 M. AzimaneOn-chip delay measurement circuit
Pub Date : 2012-05-28 DOI: 10.1109/ETS.2012.6233014 A. Jain, A. Veggetti, D. Crippa, P. Rolandi
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