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Proceedings of the Workshop on Low Temperature Semiconductor Electronics, - 最新文献
The effect of the vertical electric field on freeze-out in MOS-structures
Pub Date : 1989-08-07 DOI: 10.1109/LTSE.1989.50178 S. Voges, M. du PlessisThe extraction of electrical parameters for MOSFETs with applications to low temperature
Pub Date : 1989-08-07 DOI: 10.1109/LTSE.1989.50182 J. L. Hill, R. AndersonHot-carrier degradation of LDD n-channel MOSFETs at 77 K
Pub Date : 1989-08-07 DOI: 10.1109/LTSE.1989.50193 S. Titcomb, K. T. Paskiet, A.E. Grass
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