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Proceedings of 14th VLSI Test Symposium - 最新文献
Optimization of analog IC test structures
Pub Date : 1996-04-28 DOI: 10.1109/VTEST.1996.510834 E. Felt, A. Sangiovanni-VincentelliA self-driven test structure for pseudorandom testing of non-scan sequential circuits
Pub Date : 1996-04-28 DOI: 10.1109/VTEST.1996.510830 F. Muradali, J. RajskiNon-robust tests for stuck-fault detection using signal waveform analysis: feasibility and advantages
Pub Date : 1996-04-28 DOI: 10.1109/VTEST.1996.510879 A. Chatterjee, Rathish Jayabharathi, P. Pant, J. Abraham
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