2010 Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications

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2010 Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications - 最新文献

Independent Component Analysis Applied to Watermark Extraction and its Implemented Model on FPGAs

Pub Date : 2010-01-13 DOI: 10.1109/DELTA.2010.39 T. Le-Tien, Dien Vo-Ngoc, Lan Ngo-Hoang, Sungyoung Lee

Evaluating the Performance of Different Classification Algorithms for Fabricated Semiconductor Wafers

Pub Date : 2010-01-13 DOI: 10.1109/DELTA.2010.69 Jian Wei Cheng, M. Ooi, Chris Chan, Y. Kuang, S. Demidenko
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