Devices and Methods of Measurements

Devices and Methods of Measurements
影响因子:
0.2
ISSN:
print: 2220-9506
on-line: 2414-0473
研究领域:
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION-
自引率:
25.00%
Gold OA文章占比:
98.92%
原创研究文献占比:
96.77%
SCI收录类型:
Emerging Sources Citation Index (ESCI) || Directory of Open Access Journals (DOAJ)
期刊官网:
发文信息
WOS期刊分区
学科分类
Q4INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
历年影响因子
2022年0.4000
2023年0.2000
历年发表
2012年2
2015年4
2016年38
2017年45
2018年37
2019年44
2020年36
2021年38
2022年18
投稿信息
出版语言:
English, Russian
出版国家(地区):
Belarus
审稿时长:
8 weeks
出版商:
Belarusian National Technical University

Devices and Methods of Measurements - 最新文献

Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment

Pub Date : 2024-07-23 DOI: 10.21122/2220-9506-2024-15-2-142-150 U. A. Pilipenko, A. A. Sergeichik, D. V. Shestovski, V. A. Solodukha

Assessment of Surface Roughness of Non-Metallic Materials during Laser Processing

Pub Date : 2024-07-22 DOI: 10.21122/2220-9506-2024-15-2-131-141 V. A. Alekseev, A. V. Usoltseva, V. Usoltsev, S. I. Yuran

Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis – as a Method for Study the Aluminium-Polysilicon Interface after Exposure with Long-Term and Rapid Thermal Annealing

Pub Date : 2024-07-22 DOI: 10.21122/2220-9506-2024-15-2-104-109 U. A. Pilipenko, N. S. Kovalchuk, D. V. Shestovski, D. V. Zhyhulin
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