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Microscopy of Semiconducting Materials, 1987 - 最新文献
Metal impurities at the SiO2–Si interface
Pub Date : 2021-01-31 DOI: 10.1201/9781003069621-74 K. Honda, T. Nakanishi, A. Ohsawa, N. ToyokuraLaser beam testing of finished integrated circuits
Pub Date : 2021-01-31 DOI: 10.1201/9781003069621-90 G. AuvertOn the visibility of small SiAs particles in silicon by HREM
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1201/9781003069621-9 A. Armigliato, A. Bourret, S. Frabboni, A. Parisini
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